Việc kiểm tra wafer là quá trình thực hiện đo lường từng hạt bán dẫn trên wafer bằng cách sử dụng các đầu dò mỏng như sợi tócbảng tỷ số bóng đá, tiếp xúc trực tiếp với các điểm nối (pad) trên mỗi hạt. Quá trình này giúp xác định các đặc tính điện tử của hạt. Những hạt không đạt chuẩn sẽ được đánh dấu để sau khi wafer được tách ra thành từng hạt độc lập theo từng đơn vị...